（免費下載）GB/T 32872-2016 空間科學(xué)照明用LED篩選規(guī)范
1 范圍
1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了空間科學(xué)照明用LED(Light Emitting Diode)篩選項目和程序、篩選方法、參數(shù)測量和合格判定。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于空間科學(xué)照明用額定功率1W和1W以上封裝的單芯LED的篩選，其他功率級別的LED也可參照執(zhí)行。
2 規(guī)范性引用文件
2 規(guī)范性引用文件
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GB/T 24824-2009 普通照明用LED模塊測試方法
GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法
GJB 4027 軍用電子元器件破壞性物理分析方法
3 總則
3.1 被篩選器件應(yīng)按產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議的要求進行參數(shù)初測，合格的器件可參加篩選。篩選按規(guī)定的項目和程序進行，完成每個項目之后，剔除不合格產(chǎn)品。
3.2 被篩選器件應(yīng)逐個編號，并在每次測試時記錄測試數(shù)據(jù)。篩選結(jié)束后，應(yīng)編寫篩選統(tǒng)計表，格式參見附錄A，器件的參數(shù)測試數(shù)據(jù)可作為篩選報告的附件。
3.3 測試如有異常，應(yīng)記錄異常的發(fā)生時間和器件編號。
3.4 當(dāng)篩選剔除率超過20%時，應(yīng)判批次不合格。當(dāng)出現(xiàn)功能失效時，應(yīng)按照GJB 4027進行失效分析，如屬于材料或工藝因素的非偶然性失效也應(yīng)判批次性不合格。
4 篩選項目和程序
4 篩選項目和程序
篩選按表1規(guī)定的項目和程序進行，完成每個項目之后，剔除不合格產(chǎn)品。
表1 篩選項目和程序
5 篩選方法
5.1 外觀檢查
常溫下，用10倍放大鏡檢查器件的外觀質(zhì)量，不得存在下列缺陷：
a) 管殼和管腳銹蝕，根部有明顯硬傷；
b) 透鏡破碎、有裂紋，或有氣泡、異物；
c) 標(biāo)識不清；
d) 變形、污損、劃痕等外觀缺陷。
5.2 參數(shù)測量
按6.1、6.2和6.3進行參數(shù)測量，所測參數(shù)應(yīng)滿足產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議的要求。
5.5 密封性檢查
適用于空封器件，無空腔的器件可免做。
內(nèi)腔體積不大于1cm3用細(xì)檢漏法，按GJB 128A-1997 1071細(xì)檢漏條件H1或H2。內(nèi)腔體積不大于0.3cm3，最大泄漏率5×10-3Pa·cm3／s，內(nèi)腔體積大于0.3cm3，最大泄漏率5×10-2Pa·cm3／s。
內(nèi)腔體積大于1cm3用粗檢漏法，按GJB 128A-1997 1071粗檢漏篩選條件C。
試驗結(jié)束剔除不合格器后，按6.4.2進行合格判定。
5.11 參數(shù)終測
所有試驗完成后，按6.1、6.2和6.3進行參數(shù)終測，所測參數(shù)應(yīng)滿足產(chǎn)品規(guī)范或技術(shù)協(xié)議的要求。
6 參數(shù)測量和合格判定
6.1 測量條件
參數(shù)測量應(yīng)在下列環(huán)境進行：
a) 溫度：25℃±1℃；
b) 相對濕度：30%～65%；
c) 氣壓：86kPa～106kPa；
d) 測試應(yīng)在穩(wěn)定狀態(tài)下進行，穩(wěn)定狀態(tài)為在15min內(nèi)，光通量或光強變化小于0.5%。
6.2 測試參數(shù)
主要測試參數(shù)如下：
a) 正向電壓VF；
b) 法向光強IV；
c) 反向漏電流IR；
d) 反向擊穿電壓VR；
e) 光譜；
f) 色溫；
g) 顯色指數(shù)；
h) 光通量；
i) 熱阻。
根據(jù)使用要求可對測試參數(shù)進行刪減。
附錄A 空間科學(xué)照明用LED篩選統(tǒng)計表
附 錄A
（資料性附錄）
空間科學(xué)照明用LED篩選統(tǒng)計表
表A.1為空間科學(xué)照明用LED篩選統(tǒng)計表。
