（免費下載）GB/T 19862-2016 電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備通用要求
1 范 圍
1 范 圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備的術(shù)語和定義、分類及測量環(huán)節(jié)、技術(shù)要求、試驗、檢驗規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存等通用要求。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于對交流電力系統(tǒng)電能質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)視測量的固定式監(jiān)測設(shè)備和便攜式監(jiān)測設(shè)備。
2 規(guī)范性引用文件
2 規(guī)范性引用文件
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GB/T 191 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán))
GB/T 2423.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動(正弦)
GB 4208-2008 外殼防護(hù)等級(IP代碼)
GB/T 7408-2005 數(shù)據(jù)元和交換格式 信息交換 日期和時間表示法
GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗
GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T 17626.4-2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
GB/T 17626.5-2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗
GB/T 17626.30-2012 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電能質(zhì)量測試方法
GB/T 18039.4-2003 電磁兼容 環(huán)境 工廠低頻傳導(dǎo)騷擾的兼容水平
GB/T 20840.7-2007 互感器 第7部分：電子式電壓互感器
GB/T 20840.8-2007 互感器 第8部分：電子式電流互感器
GB/T 30137-2013 電能質(zhì)量 電壓暫降與短時中斷
DL/T 860(所有部分) 變電站通信網(wǎng)絡(luò)和系統(tǒng)
3 術(shù)語和定義
3.1
電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備 monitoring equipment of power quality
通過對引入的電壓、電流信號進(jìn)行分析處理，實現(xiàn)對電能質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行監(jiān)測的專用裝置。
3.2
瞬態(tài)過電壓 transient overvoltage
持續(xù)時間數(shù)毫秒或更短，通常帶有強(qiáng)阻尼的振蕩或非振蕩的一種過電壓。它可以疊加于暫時過電壓上。
[GB/T 18481-2001，定義3.1.2]
3.3
極限運行條件 limit range of operation
監(jiān)測設(shè)備能夠運行且不至于損壞的嚴(yán)酷條件；當(dāng)運行條件隨機(jī)轉(zhuǎn)化為額定運行條件后監(jiān)測設(shè)備的測量功能及其準(zhǔn)確度不受影響。
注：極限運行條件下監(jiān)測設(shè)備的準(zhǔn)確度將會受到影響。
3.4
額定運行條件 rated range of operation
保證監(jiān)測設(shè)備準(zhǔn)確度的運行條件。
3.5
影響量 influence quantity
任何可能會影響測量設(shè)備工作性能的量。
注：該量通常來自于測量設(shè)備外部。
[GB/T 17626.30-2012，定義3.12]
3.6
影響量范圍 range of influence quantity
單一影響量的取值范圍。
3.7
時間積累 time aggregation
按照特定的數(shù)據(jù)合并算法，將特定時間間隔(累積周期)所包含的數(shù)據(jù)序列(等時間間隔)進(jìn)行數(shù)據(jù)合并而得到一個代表該時間間隔數(shù)據(jù)的過程。
注1：該特定時間間隔定義為累積周期，例如150周波、10min、2h等；
注2：累積周期的一個測量數(shù)據(jù)定義為累積記錄，簡稱記錄，例如150周波記錄、10min記錄、2h記錄等。
[GB/T 17626.30-2012，3.31改寫]
3.8
標(biāo)記 flagging
用特定方式對電壓暫降、暫升、短時中斷期間穩(wěn)態(tài)電能質(zhì)量測量數(shù)據(jù)進(jìn)行注明的行為。
注：(記錄)標(biāo)記僅針對A級、S級設(shè)備。
3.9
標(biāo)記數(shù)據(jù) flagged data
被標(biāo)記了的電能質(zhì)量監(jiān)測數(shù)據(jù)。
3.10
波峰系數(shù) crest factor
交流周期性電壓或電流信號的峰值與有效值的比值。
3.11
平均故障間隔時間 mean time between failures；MTBF
可修復(fù)的產(chǎn)品兩次故障之間持續(xù)運行的期望時間間隔。
[IEV 192-05-13，改寫]
4 分類及測量環(huán)節(jié)
4.2 測量環(huán)節(jié)
電能質(zhì)量監(jiān)測所包含的環(huán)節(jié)如圖1所示。本標(biāo)準(zhǔn)側(cè)重于其中的監(jiān)測設(shè)備。
5 技術(shù)要求
5.8 電磁兼容性(EMC)
監(jiān)測設(shè)備應(yīng)滿足下述電磁兼容要求：
a) 監(jiān)測設(shè)備電快速瞬變脈沖群抗干擾度應(yīng)滿足GB/T 17626.4-2008中規(guī)定的嚴(yán)酷等級3級的要求；
b) 監(jiān)測設(shè)備射頻電磁場輻射抗干擾度應(yīng)滿足GB/T 17626.3-2006中規(guī)定的嚴(yán)酷等級3級的要求；
c) 監(jiān)測設(shè)備靜電放電抗干擾度應(yīng)滿足GB/T 17626.2-2006中規(guī)定的嚴(yán)酷等級3級的要求；
d) 監(jiān)測設(shè)備浪涌抗擾度能力應(yīng)滿足GB/T 17626.5-2008中規(guī)定的嚴(yán)酷等級3級的要求。
5.9 平均故障間隔時間
生產(chǎn)廠家應(yīng)提供平均故障間隔時間技術(shù)指標(biāo)。
6 試 驗
6.2 基本功能檢驗
分項檢測監(jiān)測設(shè)備是否具有5.1所描述的各項功能。
7 檢驗規(guī)則
7.1 出廠檢驗
由制造廠檢驗部門對生產(chǎn)的每個產(chǎn)品進(jìn)行檢驗，出廠檢驗項目見表18。合格后應(yīng)加封印出廠，發(fā)給質(zhì)量合格證明書。
7.2 型式試驗
下列情況之一應(yīng)隨機(jī)抽取一臺樣品按本標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的全部技術(shù)要求進(jìn)行試驗：
a) 新產(chǎn)品設(shè)計定型鑒定及批量試生產(chǎn)定型鑒定；
b) 當(dāng)監(jiān)測設(shè)備結(jié)構(gòu)、工藝或主要材料上有改變，可能影響其符合本標(biāo)準(zhǔn)要求時；
c) 停產(chǎn)一年后重新投產(chǎn)時；
d) 出廠檢驗與上次型式試驗結(jié)果有較大差異的，需重新進(jìn)行一次型式檢驗；
e) 國家質(zhì)量監(jiān)督機(jī)構(gòu)提出進(jìn)行型式檢驗要求時。
7.3 檢驗項目
8 標(biāo)志、包裝、運輸和貯存
8.1 產(chǎn)品標(biāo)志
產(chǎn)品應(yīng)有下列標(biāo)志：
a) 產(chǎn)品型號、名稱；
b) 產(chǎn)品編碼；
根據(jù)監(jiān)測設(shè)備測量方法對應(yīng)的A級、S級、B級，從左到右按照表19順序進(jìn)行編碼（A對應(yīng)A級、S對應(yīng)S級、B對應(yīng)B級，X表示無此項功能）。例如：ASXASAA：表示為：電壓偏差：A級；頻率偏差：S級；諧波：無此項功能；間諧波：A級；電壓不平衡度：S級；閃變：A級；電壓暫降/暫升/短時中斷：A級。
c) 生產(chǎn)廠名、商標(biāo)；
d) 出廠編號；
e) 電源額定電壓、額定頻率。
附錄A 電能質(zhì)量數(shù)據(jù)模型規(guī)范
A.1 概述
本附錄采用DL/T 860和IEC 61850(ED2)協(xié)議規(guī)定了電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備中電能質(zhì)量數(shù)據(jù)模型的基本要求，旨在實現(xiàn)不同廠商的電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備的數(shù)據(jù)兼容。
附錄B 電能質(zhì)量數(shù)據(jù)交換文件(PQDIF)文件規(guī)范
B.1 概述
PQDIF是IEEE提出的一種電能質(zhì)量數(shù)據(jù)的交換格式，它完全獨立于監(jiān)測設(shè)備的軟、硬件，不僅可以較好地解決多數(shù)據(jù)源數(shù)據(jù)的兼容問題，還可以實現(xiàn)電能質(zhì)量物理屬性的多角度觀察功能，滿足了電能質(zhì)量監(jiān)測技術(shù)的發(fā)展需要。PQDIF應(yīng)符合IEEE 1159.3-2003的規(guī)范要求。
本附錄根據(jù)IEEE 1159.3-2003，僅給出PQDIF數(shù)據(jù)交換的基本要求，進(jìn)一步詳細(xì)內(nèi)容可參考相應(yīng)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
B.2 基本要求
PQDIF文件應(yīng)符合下列基本要求：
a) 一個PQDIF文件應(yīng)只包含一個監(jiān)測點的電能質(zhì)量數(shù)據(jù)，應(yīng)包含并且只能包含一個容器記錄、一個數(shù)據(jù)源記錄，應(yīng)包含至少一個監(jiān)測設(shè)置記錄和一個觀測值記錄。
b) 一個監(jiān)測終端中同一監(jiān)測點的各項電能質(zhì)量數(shù)據(jù)應(yīng)使用同一個數(shù)據(jù)源定義。
c) 監(jiān)測數(shù)據(jù)應(yīng)是經(jīng)過壓縮的數(shù)據(jù)，壓縮方式為記錄級壓縮，壓縮算法為ZLIB。
d) 電能質(zhì)量監(jiān)測設(shè)備宜以兩h為基本單位生成一個PQDIF文件，以監(jiān)測點名稱為目錄分開存儲文件。PQDIF文件中數(shù)據(jù)的結(jié)束時刻為整點時刻，時間格式采用GTM＋08：00。文件名的命名規(guī)則是“yyyymmddThhmmss.pqd(年月日T時分秒.pqd，T為日期與時刻的分隔符，此時間表示PQDIF文件所創(chuàng)建的時間)”。
e) 符合本標(biāo)準(zhǔn)的PQDIF文件版本信息為1.0。
B.3 數(shù)據(jù)源記錄要求
數(shù)據(jù)源記錄應(yīng)符合下列規(guī)定：
a) 通道定義以及序列定義不允許重復(fù)；
b) 每個通道至少包含2個序列，其中第一個是時間序列，之后為數(shù)據(jù)序列；
c) 多個數(shù)據(jù)序列應(yīng)通過不同的值類型標(biāo)簽(tagValueTypeID)予以區(qū)分，如有效值、最大值、最小值、平均值等。
B.4 設(shè)置記錄要求
監(jiān)視設(shè)置記錄應(yīng)至少包含額定電壓等級、頻率(tagNominalFrequency)、接線方式(tagSettingPhysicalConnection)。
參考文獻(xiàn)
參考文獻(xiàn)
[1] GB/T 18481-2001 電能質(zhì)量 暫時過電壓和瞬態(tài)過電壓
[2] IEC 60050 International Electrotechnical Vocabulary(IEV)
[3] IEC 61850(相關(guān)部分) Communication networks and systems for power utility automation
[4] IEC 81346-1 Industrial systems，installations and equipment and industrial products-Structuring principles and reference designations-Part 1：Basic rules
[5] IEEE 1159.3-2003 IEEE Recommended Practice for the Transfer of Power Quality Data(PQDIF)
